- 이대희
 
								- 韓國宇宙科學會誌 = Journal of astronomy & space sciences
 
								- 14, n.1
 
								- pp.80-86
 
								- 1997
 
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								지구 주변의 방사선대에 존재하는 고에너지 입자들은 위성계의 전자 재료, 부품, 및 집적 회로 등에 일시적 또는 장기적인 영향을 준다. 따라서 이러한 고에너지 입자들에 의한 우주 방사선 환경에 대한 정보를 아는 것은 매우 중요하다. 총 방사선의 양을 측정하는 장치로서 MOSFET을 개량한 RADFET을 많이 사용하는데, 본 연구에서는 <TEX>$Co^{60}{\gamma}-ray$</TEX>를 이용하여 TOT500 RADFET을 보정하였다. 그 결과, 방사선에 대한 RADFET의 특성 곡선 변화가 온도의 변화에 매우 민감한 것을 확인하였다. 또한, 우리별 1호에서의 TDERUF과를 위성의 온도와 비교하였으며, 그 결과 TDE 실험에 나타난 특이한 형상은 지구에 의한 위성의 식 현상에서 비롯된 온도 변화가 주된 원인이었음을 확인하였다.